燃(ran)料電池石(shi)墨(mo)雙極(ji)板(ban)標(biao)準(zhun)：

1資料的均勻顆粒直徑(jing)直接影響(xiang)到(dao)資料放電的(de)狀況(kuang)。資料的均勻顆粒越(yue)小，資料的放電越(yue)均勻(yun)，放電的(de)狀況(kuang)越(yue)安(an)穩，外(wai)表質量越(yue)好(hao)。 

2關於(yu)外表(biao)、精度要(yao)求(qiu)不(bu)高(gao)的鑄(zhu)造(zao)、壓鑄(zhu)模具(ju)，壹(yi)般(ban)引薦運用(yong)顆粒較(jiao)粗(cu)的(de)資料，如ISEM-3等；

3關於(yu)外表(biao)、精度要(yao)求(qiu)較(jiao)高的(de)電子(zi)石(shi)墨(mo)模具(ju)，引(yin)薦(jian)運用(yong)均(jun)勻(yun)粒徑(jing)在(zai)4μm以(yi)下的資料，以(yi)保(bao)證(zheng)被加工(gong)模具(ju)的(de)精度、外(wai)表光(guang)潔(jie)度(du)。

4資料的均勻顆粒越(yue)小，資料的損耗(hao)狀況(kuang)就(jiu)越(yue)小，各離子團之(zhi)間的作用(yong)力(li)就(jiu)越(yue)大。比(bi)方：壹般(ban)引薦在(zai)精細壓(ya)鑄模具(ju)、鑄(zhu)造(zao)模具(ju)方面(mian)，

ISEM-7已(yi)足(zu)以(yi)滿足(zu)要求(qiu)；但客(ke)戶關於(yu)精度要(yao)求(qiu)特(te)別(bie)高(gao)時(shi)，引薦運(yun)用TTK-50或(huo)ISO-63資料，以(yi)保(bao)證(zheng)更(geng)小(xiao)的資料損耗(hao)，

5從(cong)而(er)保(bao)證(zheng)模具(ju)的(de)精度和外表粗(cu)糙(cao)度(du)。 同時(shi)，顆粒越(yue)大，放(fang)電的(de)速(su)度就(jiu)越(yue)快(kuai)，粗(cu)加工(gong)的(de)損(sun)耗(hao)越(yue)小。主(zhu)要是(shi)放電進(jin)程的電流(liu)強度(du)不(bu)同，

6導致(zhi)放(fang)電的(de)能量大小(xiao)不(bu)壹(yi)。但放電後的(de)外(wai)表(biao)光潔(jie)度(du)也隨著(zhe)顆粒的變化而(er)變(bian)化。